功能安全是当今汽车电子开发设计的一项重要技术，通过在设计开发中引入功能安全的理念，能够了解当今汽车研发的最新设计思路，分析方法，以及标准化的评估手段。从而提升公司研发团队的设计能力。
针对道路车辆功能安全的国际标准ISO26262于2012年正式颁布，至今已经过5年多的历程。在近2,3年内，功能安全已成为国内汽车制造，设计业界热门的话题，也日益成为业界的一个必须跨越的技术门槛。ISO26262对整个车用电子电器部件的安全概念，系统开发，软硬件开发都提出了超出一般质量管理要求的额外要求，有些是新增的要求。比如硬件阶段的硬件随机失效量化指标的计算。这对广大从业工程师提出了新的要求。
本次培训一共两天。针对ISO26262 Part5硬件开发以及,Part11中的半导体部分的内容进行讲解，梳理。并对一些普遍比较难以理解的知识点比如安全机制，FTA分析，FMEDA，以及硬件组件鉴定，着重并配以一些实例进行讲解。
培训目标
掌握硬件功能安全设计的机制；
掌握FTA和FMEDA分析方法；
掌握基于非量化和量化指标的硬件组件的鉴定方法；
掌握半导体功能安全的SEOOC设计；
掌握半导体功能安全的安全机制
主讲老师
牛喀学城特约讲师，SCCM高级安全专家
15年汽车电子行业工作经验，专注于自动驾驶方向，有丰富的自动驾驶系统安全设计经验。近十年功能安全开发、咨询、审核经验，曾任多个国际顶级零部件商功能安全经理，SGS-TUV汽车功能安全总工程师，国内首个量产ADAS项目（ASILD）的功能安全经理，国内首个量产产品功能安全的TUV审核和认证咨询专家，带领团队进行整车功能安全设计并获得TUV审核认证。
一．导论：ECU的硬件层面设计
1.1 功能安全的硬件安全设计的基本要求
1.2 ECU硬件安全需求设计和实例
1.3 硬件安全手册和SEOOC
1.4 ECU的硬件功能安全分析（定性-FTA/DFMEA）
1.5 ECU的硬件功能安全分析（定量-Quantitative FTA/FMEDA）
1.6 硬件功能安全诊断设计和诊断覆盖率分析的实战讲解
1.7 硬件原器件的评估（新老版本对比讲解）
1.8 硬件的功能安全测试
二. 半导体的功能安全
2.1 新版ISO 26262中的Part11简介
2.2 半导体功能安全的基本概念
2.3 半导体功能安全的SEOOC设计
三．基础失效率
3.1 如何考量半导体元件功能安全
3.2 半导体器件功能安全开发
3.3 半导体器件元件分解
3.4 半导体器件故障模式
3.5 半导体器件失效模式
3.6 不同失效模式下的失效率分布
四．基础失效率计算
4.1 半导体器件基础失效率计算
4.2 半导体器件基础失效率计算注意事项
4.3 半导体器件永久失效率计算方法
五．DFA关联失效分析
5.1 半导体器件关联失效分析（DFA）介绍
5.2 半导体器件关联失效工况分析
5.3 半导体器件级联失效和共因失效
5.4 半导体器件关联失效源分析
5.5 半导体器件功能安全设计策略
5.6 半导体器件关联失效分析示例
5.7 软件和硬件间的关联失效
六. 半导体功能安全故障注入
6.1 半导体器件故障注入的特征或变量
6.2 半导体器件故障注入结果
6.3 半导体器件量产中的功能安全要求
七．常见器件的安全机制
7.1 数字器件与存储器
7.2 数字器件失效模式
7.3 数字器件故障模式分析
7.4 存储器件失效模式分析
7.5 数字器件剩余故障失效率
7.6 数字器件定量分析
7.7 数字器件故障注入仿真验证
7.8 数字器件的安全文档
7.9 数字器件及存储器的安全机制
7.10数字器件及存储器的技术概要
八．模拟信号器件
8.1 模拟信号器件和失效模式
8.2 模拟信号器件安全分析
8.3 模拟信号器件安全机制
8.4 模拟信号器件开发阶段系统性故障
九．PLD程逻辑器件
9.1 PLD避免可编程逻辑器件系统故障
9.2 PLD可编程逻辑器件安全文档
9.3 PLD可编程逻辑器件安全分析
十．IP核
10.1 IP核功能安全生命周期
10.2 IP核功能安全交付物
10.3 IP核功能安全集成
十一.多核半导体组件
11.1 多核半导体组件类别
11.2 符合ISO 26262的多核半导体组件
十二. 传感器&变送器
12.1 传感器失效模式
12.2 传感器安全分析
12.3 传感器安全措施示例
12.4 传感器开发阶段系统性故障
12.5 传感器&变送器功能安全文档
十三. PLD可编程逻辑器件
13.1 PLD可编程逻辑器件失效模式
13.2 PLD可编程逻辑器件安全分析
13.3 PLD可编程逻辑器件安全机制
十四. 延伸：软件功能安全简介
